主營產(chǎn)品:
本公司銷售keysight i1000d, i3070,spea4020,spea4060,spea3030,digital test mts-30,mts-180 mts-300,mts-888,seica flying test systems 德律tr518fe,tr518fR,tr518fv,tr518SII,tr8100,TRI5001T,TR5001SIIQDI tr8100LV 在線測試儀,星河src6001,src8001,星河src3001a,src3001,,foucs-2000,foucs-3000,foucs-4000,hioki,jet3000 泰瑞達18,
文章詳情
ICT測試出來的**維修
日期:2024-12-28 08:37
瀏覽次數(shù):1354
摘要: 1.ICT**的類型主要有以下幾種(以HIBEX MERCURY型ICT為例):
·SHORT FAIL 短路**,本應(yīng)該短路的,實質(zhì)上開路
·OPEN FAIL 開路**,本應(yīng)該開路的,實質(zhì)上短路
·HIGA FAIL 測試值遠遠的高于設(shè)定值的誤差范圍
·LOW FAIL 測試值遠遠的低于設(shè)定值的誤差范圍
·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預(yù)先設(shè)置的類型不相同
·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進測試程序中
·POL FAIL 被測試的元器件的極性(電容除外)插反
·OPEN FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試針短路,本來...
1.ICT**的類型主要有以下幾種(以HIBEX MERCURY型ICT為例):
·SHORT FAIL 短路**,本應(yīng)該短路的,實質(zhì)上開路
·OPEN FAIL 開路**,本應(yīng)該開路的,實質(zhì)上短路
·HIGA FAIL 測試值遠遠的高于設(shè)定值的誤差范圍
·LOW FAIL 測試值遠遠的低于設(shè)定值的誤差范圍
·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預(yù)先設(shè)置的類型不相同
·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進測試程序中
·POL FAIL 被測試的元器件的極性(電容除外)插反
·OPEN FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試針短路,本來應(yīng)該是開路的
·SHORT FAIL NODE 在兩個或兩個以上的測試PIN開路,本來應(yīng)該是短路的
2.總體來說,ICT**的維修,基本上都是從以下幾點進行:
·部品本身有誤配或**的情況發(fā)生
·ICT PINBOARD本身針點上有異物
·ICT PINBOARD 本身有針**
·PCB上的測試點無焊錫
·PCB上的測試點有異物
·PCB上的測試儀點光澤度看上去比較差,表面測試點上松香過多